在DDR5内存子系统迈向4800MT/s乃至更高频率的征途中,信号完整性(SI)与电源完整性(PI)不再是可有可无的点缀,而是决定设计成败的“生死线”。当信号周期缩短至0.208ns,任何微小的阻抗波动或串扰都可能引发误码。因此,深度耦合的SI/PI联合仿真,成为打破高速设计瓶颈的bi由之路。
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