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航天器单粒子翻转（SEU）防护策略设计方案
在航天器运行环境中，高能粒子辐射是威胁系统可靠性的重要因素之一。单粒子翻转（Single Event Upset，SEU）是指单个高能粒子（如质子、重离子等）入射到半导体器件中，使器件的存储单元或逻辑状态发生非预期的改变，从而导致系统出现错误。为提高航天器系统的可靠性和稳定性，需设计有效的SEU防护策略。
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一种抗SEU存储器电路的FPGA设计
随着我国航空航天事业的迅猛发展，卫星的应用越来越广泛。然而，太空环境复杂多变，其中存在着各种宇宙射线与高能带电粒子，它们对运行于其中的电子器件会产生各种辐射效应
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一种抗SEU存储器电路的FPGA设计
