ADI公司的工业功能安全(FS)产品系列包含四类器件,如表1所示。所谓功能安全型器件,是指如下的标准集成电路(IC)或产品:本身并不符合任何功能安全标准,但凭借所具备的功能与特性1和广泛应用经验,外加可通过安全应用笔记获取的功能安全文档,被ADI推荐用于功能安全场景。
对安全功能电路进行首次失效模式、影响与诊断分析(FMEDA)后,结果只有两种。第一种结果是系统完整性等级(SIL)要求得到满足,第二种结果是要求未能满足。对于后者,要在不进行重大架构变更的情况下解决问题,系统集成商可以提高诊断覆盖率、调整运行条件和/或采用额外安全措施。ADI公司安全应用笔记中的信息可以帮助系统集成商实施此类设计改进,从而达到每小时危险失效概率(PFH)/按需危险失效概率(PFDAVG)和安全失效比率(SFF)要求。因此,本系列的第3部分深入探讨系统集成商如何使用功能安全(FS)型器件的安全应用笔记,来提升IC在系统中的功能安全性能。
在完成合理性校验,确认器件功能安全(FS)失效率、失效模式分布(FMD)及引脚失效模式与影响分析(FMEA)的推导假设成立后,系统集成商下一步需将这些数据导入其系统的失效模式、影响与诊断分析(FMEDA)中。ADI的安全事项应用笔记提供了多种计算失效率、裸片FMD及引脚FMEA的方法。系统集成商可根据自身在安全相关系统(SRS)设计或通过FMEDA开展技术安全分析的经验,采用不同方式来运用这些信息。本系列文章第2部分旨在介绍一种结合裸片FMD与引脚FMEA来推导FS器件的失效率分布的方法。